Nuestro primero en Journal of Microscopy

J. CANET-FERRER, L. MARTÍN-CARRÓN, J. MARTÍNEZ-PASTOR, J. L. VALDÉS, A. PEÑA, J. J. CARVAJAL & F. DIAZ, Scanning probe microscopies applied to the study of the domain wall in a ferroelectric crystal, Journal of Microscopy, aceptado (2006).

En este artículo se estudió mediante microscopía AFM y SNOM la frontera entre los dos dominios existentes en un cristal de RTP. Para ello fué necesario realizar un ataque químico selectivo muy suave para poder localizar dicha frontera. Con nuestro sistema de micro-posicionamiento pudimos examinar varios mm de dicha frontera y obtener resultados interesantes sobre sus detalles geométricos, que a nivel macroscópico no son esperables (como fenémenos de zig-zag, por ejemplo).